涂层测厚仪常用的膜厚测定法的种类和应用

漆膜厚度是评价涂层质量的重要指标之一,为了管控涂膜厚度,就可以利用涂层测厚仪,通过膜厚测定法来进行检测。

 

涂层厚度的检验,一般分为涂层平均厚度和局部厚度两类检验方法。由于局部厚度比平均厚度在实际应用中更能反映产品的质量,所以在多数情况下采用测量涂层的局部厚度或局部平均厚度。测厚时至少应在有代表性或规定部位测量三个以上厚度,并计算其平均值作为测量厚度的结果。

 

涂层厚度检验方法有破坏检测法和非破坏检测法(无损检测法)两大类。属于破坏检测法的有点滴法、液流法、化学溶解法、电量法(库仑法)、金相显微镜法、轮廓法及干涉显微镜法等多种;属于非破坏检测法的有磁性法、涡流法、X射线荧光测厚法、β射线反向散射法、光切显微镜法以及能谱法等。破坏性测厚法一般适用于非贵重涂件或大批涂件加工的产品。非破坏测厚法适用于某些贵重或精密的涂件产品。

 

涂层厚度的测量方法很多,每种方法根据物理特性的参数不同而有各自的特点。例如磁性法是利用涂层和基体之间材料的磁性率不同,涡流法是利用材料的电导率不同,射线法是利用材料原子序数不同对射线的吸收系数和反射线系数也不同。

 

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时间

2022-05-16 14:40


栏目

产品动态


作者

竹中虎


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